専門展示会からウェビナーまで、当社にお会いできる場所や3D計測技術の詳細はこちらでご確認ください。すべてのスケジュールが一目でわかります。
当社の技術をライブで体験し、新しい応用分野を発見し、お客様の課題について当社の専門家にご相談ください。展示ブースでの対面でも、オンラインでのウェビナーでも、皆様との対話を楽しみにしています。
チューリッヒで開催される**Quantum Industry Day in Switzerland 2026**にて、Heliotisのブースへぜひお越しください。磁場イメージング測定のためのNVダイヤモンド実験において、**heliCam™ C4 Lock-inカメラ**のデモンストレーションを行います。
ピクセル並列Lock-in検出が、NV中心の蛍光のごくわずかな変化をどのように可視化し、Quantum Sensingの新たな可能性を切り拓くかをご体感ください。当社のエキスパートであるLaura Zinklが、セットアップをライブでご紹介し、お客様のアプリケーションについてご一緒に議論できることを楽しみにしています。
SEMICON Europa 2026でHeliotisのブースへお越しいただき、半導体計測および検査向けの超高速・高解像度白色光干渉計（WLI）をご覧ください。
当社のWLIセンサーは、OEM機器への組み込み向けに特別に設計されており、ナノメートル精度と非常に高い測定速度を両立しています。これは、半導体製造における要求の厳しいインラインおよびアットラインアプリケーションに最適です。コンパクトな設計と標準化されたインターフェースにより、センサーは既存および新規の機器コンセプトに簡単に統合できます。
世界有数の生体医用光学およびバイオフォトニクスの専門展示会であるSPIE BiOS Expo 2027にて、Heliotisのブースへぜひお立ち寄りください。当社は独自のLock-inイメージング技術に加え、研究、ライフサイエンス、ならびに高度な光学アプリケーション向けの高精度3D計測技術を展示します。画像処理および計測技術における次の課題について、皆様とお話しできることを楽しみにしております。
Heliotisは、OEMおよび高度な光学システム開発者向けの中核技術を紹介します。当社のLock-inセンサー、カメラ、3D計測技術が、計測、画像処理、半導体技術、科学計測機器の分野における革新的な製品の基盤となることをご確認ください。次世代のシステムおよび製品について、ぜひ当社チームにご相談ください。
SPIE Vision Tech 2027では、HeliotisがheliInspectシリーズ（産業用白色光干渉計に基づく高精度3Dカメラ）を展示します。ナノメートル精度、高速な測定サイクル、堅牢な産業統合が、光学式表面検査において新たな基準を打ち立てる仕組みをご紹介します。
Control展でHeliotisにお越しいただき、研究開発 & 生産ライン近傍のアットラインアプリケーションにおける高精度3D測定向けheliProfilerをご体験ください。
当社の新しいマシンビジョンプラットフォームは、アットラインおよびインラインでの産業用3D検査を効率的に実現します。フィールドバスやMESシステムへのインターフェースにより、自動化された生産環境への簡単な統合が可能です。
測定タスクの開発から生産における自動化された100%検査まで、Heliotisは精密な産業用3D検査のための一貫したプラットフォームを提供します。
日程調整、チケットのお問い合わせ、詳細なご質問など、お気軽にお問い合わせください。簡単なメッセージをお送りください。
Heliotis AG