お客様が探しているものをすぐに見つけられるように、よくある質問とその明確かつ簡潔な回答をまとめました。
当社のセンサーは、マイクロメートル精度の3D測定が必要とされる産業品質保証で使用されています。一般的なアプリケーションには、マイクロエレクトロニクス、半導体、自動車、精密工学の検査があります。当社の顧客は主に、精度とプロセスセキュリティに対する最高の要件を持つ機械メーカー、インテグレーター、OEM、および製造業者です。
heliInspectセンサーは、光沢のある表面や透明な表面でも、ナノメートル分解能で3D測定を提供します。レーザートライアングレーションやステレオシステムなどの方法とは異なり、白色光干渉法を使用して真上から垂直に測定するため、遮影の問題はありません。このように、最高の精度と、高速でも安定したパフォーマンスを兼ね備えています。
センサーは、鏡面反射や透明な材料から、粗い、構造化された、またはコーティングされた表面まで、あらゆる表面を高精度でキャプチャします。白色光干渉法のおかげで、困難な表面でも確実かつ再現性良く測定できます。
白色光干渉法（WLI）は、数十年にわたりラボで実績があり、代替の光学的手法に比べて多くの利点があります。ただし、産業用途では、膨大な量のデータを処理する必要があります。通常のイメージセンサーでは、測定時間が長くなり、短いサイクル時間や製造における避けられない振動と両立しません。ヘリオティスが開発したロックインピクセルセンサーは、干渉信号をピクセル内で直接処理します。これにより、測定時間が100〜1000分の1に短縮され、産業用白色光干渉計が可能になります。また、ピクセルを最高のダイナミックレンジで設計し、実際の要求の厳しいコンポーネントでも堅牢な測定を可能にします。
はい。標準製品に加えて、OEM顧客向けに、特別なレンズや照明ユニットから個別のセンサーバリアントまで、カスタマイズされたコンポーネントも開発しています。このようにして、当社のテクノロジーをそれぞれのアプリケーションに最適に適合させ、お客様に明確な競争上の優位性を提供できます。
当社のカメラは、白色光干渉法（WLI）を使用しています。この光学的手法は、光波の重ね合わせを利用して、ナノメートル範囲の高さの違いを正確にキャプチャします。三角測量法やステレオ法とは異なり、WLIは真上から垂直に測定し（遮影なし）、光沢のある表面や透明な表面でも真の3Dデータを提供します。
当社のチームが喜んで個人的にお手伝いします。お気軽にお問い合わせください。
