非接触、絶対、材料に依存しない測定方法により、白色光干渉法は一貫した結果を提供します – 他の光学的手法が限界に達する場所でも。
Heliotisの高速センサーと組み合わせることで、研究室から量産まで、自動化された品質管理とプロセス制御のためのインライン対応の重要技術となります。
WLIは光の光学的走行時間を使用して高さを測定します。この物理的原理により、小さなマイクロチップや大きな機能面を測定するかに関わらず、一定の垂直分解能が可能になります。
結果：対物レンズや作動距離に関係なく、一貫した精度。
産業品質管理では、様々な種類の表面 – 研磨、コーティング、構造化、または透明 – が一緒に現れます。
WLIは反射率、色、またはテクスチャに依存しないため、これらすべての材料で確実に測定します。強い光沢のある表面や透明な表面でも、前処理なしで捕捉できます – 粉を吹きかけたりマット加工したりする必要はありません。
三角測量法とは異なり、WLIは軸方向の光線で動作します。穴、段差、または深い溝でも、影や傾きなしで完全に捕捉されます。複雑な形状や狭い取り付け状況に理想的です。
Heliotisが開発したロックインピクセル技術により、干渉信号はセンサー内で直接評価されます – 従来の干渉法よりも最大1000倍速く。
これにより、WLIは振動に強く、高速でプロセス対応になります – 自動化された品質管理に最適です。
WLIは真の絶対3Dトポグラフィを提供します – 国家標準にトレーサブルです。
高い安定性と再現性により、Heliotisシステムはインライン検査の測定能力（Gage R&R）要件を満たします。
粗さ、形状、平面度 – すべての特性は計量的で、検証可能で再現可能です。これにより、顧客だけでなく、社内の製造と品質保証にも信頼が生まれます。
WLIは面積を測定し、ISO 25178に準拠した粗さパラメータを提供します – 非接触かつ非破壊的に。
高い垂直分解能により、シーリング、接着、または摩擦などの機能特性のための意味のある3Dテクスチャモデルが可能になります。
これにより、粗さ試験がプロセス安全でインライン対応になります。
Heliotisセンサーは、GenICam、EtherCAT®、PROFINET®から包括的なSDKまで、オープンな産業用インターフェースを採用しています。
これにより、WLIシステムをPLCコントローラーやマシンビジョンPCに直接統合できます – 独自のドライバーや特別なソリューションは不要です。
標準準拠により、統合の労力が減少し、機械レベルでの信頼性の高い通信が保証されます。
Heliotisセンサーは産業用途向けに開発されています – 堅牢、安定、長期利用可能。
量産条件下で製造され、長年にわたって互換性があり、機械メーカーやOEMに信頼性を提供します。
