ラーニングセンター・チュートリアル

ISO 21920に基づく粗さ

ISO 21920は、表面粗さのプロファイルベースの評価を定義し、従来の触針式粗さ測定の基盤となります。本チュートリアルでは、触針式測定と、白色光干渉計(WLI)による非接触粗さ測定を比較し、Heliotisの3D測定システムで同等の粗さパラメータを算出する方法をご紹介します。

この記事をシェアする