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당사의 센서는 산업용 품질 보증 분야에서 활용되며, 마이크로미터 수준의 정밀한 3D 측정이 필요한 모든 곳에서 사용됩니다. 대표적인 적용 분야로는 마이크로일렉트로닉스, 반도체, 자동차 및 정밀기술 분야의 검사 등이 있습니다. 당사의 고객은 주로 기계 제조업체, 시스템 통합업체, OEM 및 생산업체로, 정밀도와 공정 안정성에 대해 최고 수준의 요구사항을 갖고 있습니다.
heliInspect 센서는 나노미터 해상도의 3D 측정을 제공하며, 광택이 있거나 투명한 표면에서도 가능합니다. 레이저 삼각측량이나 스테레오 시스템과 같은 방식과 달리, 백색광 간섭계를 이용해 상부에서 수직으로 측정하므로 차폐(그림자) 문제를 겪지 않습니다. 이를 통해 높은 속도에서도 안정적인 성능과 최고 수준의 정밀도를 동시에 구현합니다.
당사 센서는 반사율이 높은 재질과 투명 소재부터 거칠거나 구조가 있는 표면, 코팅된 표면까지 모든 표면을 높은 정밀도로 측정합니다. 백색광 간섭계(WLI) 덕분에 까다로운 표면도 신뢰성 있고 재현 가능하게 측정할 수 있습니다.
백색광 간섭계(WLI)는 수십 년간 실험실에서 그 성능이 입증되었으며, 대체 광학 방식 대비 많은 장점을 제공합니다. 그러나 산업 환경에서는 방대한 데이터량을 처리해야 하며, 일반 이미지 센서는 측정 시간이 길어져 짧은 택트 타임이나 생산 현장에서 불가피한 진동과 양립하기 어렵습니다. Heliotis가 개발한 Lock-in 픽셀 센서는 간섭 신호를 픽셀에서 직접 처리합니다. 그 결과 측정 시간이 100~1000배 단축되며, 이를 통해서만 산업용 백색광 간섭계가 가능해집니다. 또한 당사는 픽셀을 최고 수준의 다이내믹 레인지로 설계하여, 실제의 까다로운 부품에서도 견고한 측정을 가능하게 합니다.
예. 당사의 표준 제품 외에도 OEM 고객을 위해 특수 렌즈와 조명 유닛부터 개별 센서 변형 모델에 이르기까지 맞춤형 구성품을 개발합니다. 이를 통해 각 적용 분야에 맞게 기술을 최적으로 적용하고, 고객에게 명확한 경쟁 우위를 제공할 수 있습니다.
당사의 카메라는 백색광 간섭계(WLI) 방식으로 작동합니다. 이 광학 방식은 빛의 파동이 중첩되는 현상을 이용해 나노미터 수준의 높이 차이를 정밀하게 측정합니다. 삼각측량 또는 스테레오 방식과 달리 WLI는 상부에서 수직으로 측정하므로 차폐(그림자) 없이, 광택이 있거나 투명한 표면에서도 실제 3D 데이터를 제공합니다.
당사 팀이 기꺼이 직접 도와드리겠습니다. 편하게 문의해 주십시오.
Heliotis AG