為了讓您快速找到所需資訊，我們在此整理了客戶最常提出的問題，並提供清晰簡潔的解答。
我們的感測器應用於工業品質保證領域，特別是需要微米級精度 3D 測量的場合。典型應用包括微電子、半導體、汽車及精密技術的檢測。我們的客戶主要是機械製造商、系統整合商、OEM 廠商以及對精度和製程可靠性有最高要求的生產商。
heliInspect 感測器可提供奈米級解析度的 3D 測量，即使是光亮或透明表面也能精確量測。與雷射三角測量或立體視覺系統不同，本系統採用白光干涉測量技術從垂直上方進行測量，因此不會產生陰影問題。如此結合了最高精度與穩定效能，即使在高速運作下也能保持卓越表現。
感測器能以高精度擷取各種表面，從鏡面和透明材料到粗糙、結構化或塗層表面皆可測量。憑藉白光干涉測量技術，即使是難以測量的表面也能可靠且可重複地進行量測。
白光干涉測量技術（WLI）在實驗室應用已有數十年歷史，相較於其他光學方法具有諸多優勢。然而在工業應用中需要處理龐大的資料量，一般影像感測器會導致測量時間過長，無法配合短週期時間以及生產環境中不可避免的振動。Heliotis 開發的 Lock-in 像素感測器可直接在像素層級處理干涉訊號，因此將測量時間縮短 100 至 1000 倍，使工業級白光干涉儀得以實現。此外，我們將像素設計為高動態範圍，即使在實際複雜零件上也能實現穩健的測量。
是的。除了標準產品外，我們也為 OEM 客戶開發客製化元件，從特殊鏡頭和照明單元到個別感測器變體皆可提供。如此可將我們的技術完美適配於各種應用，為客戶創造明確的競爭優勢。
我們的相機採用白光干涉測量技術（WLI）。此光學方法利用光波疊加來精確擷取奈米級的高度差異。與三角測量或立體視覺方法不同，WLI 從垂直上方進行測量，不會產生陰影問題，即使在光亮或透明表面上也能提供真實的 3D 資料。
我們的團隊很樂意為您提供個人化協助，歡迎與我們聯繫。
Heliotis AG