常见问题

为便于您快速找到所需信息,我们在此汇总了客户最常见的问题,并以清晰精炼的方式作答。

3D 相机都应用于哪些领域?

我们的传感器用于工业质量控制——凡是需要微米级精度 3D 测量的场景皆可应用。典型应用包括微电子、半导体、汽车以及精密工程领域的检测。我们的客户主要是机械设备制造商、系统集成商、OEM 以及生产企业,他们对精度与过程可靠性有着极高要求。

heliInspect 传感器可提供纳米级分辨率的 3D 测量——即使面对高反光或透明表面亦然。与激光三角测量或立体视觉系统等方法不同,它们通过白光干涉从正上方垂直测量,因此不会受到遮挡阴影的影响。由此可在高速条件下也兼具最高精度与稳定性能。

传感器可高精度采集各类表面——从镜面与透明材料到粗糙、结构化或涂层表面。得益于白光干涉技术,即使是棘手表面也能实现可靠且可重复的测量。

白光干涉(WLI)在实验室中已被验证数十年,相比替代性的光学方法具有诸多优势。然而在工业应用中需要处理海量数据——普通图像传感器会导致测量时间过长,既无法满足短节拍要求,也难以适应生产中不可避免的振动。Heliotis 开发的 Lock-in 像素传感器可在像素内直接处理干涉信号,从而将测量时间缩短 100 至 1000 倍——也正因此,工业级白光干涉仪才成为可能。我们还将像素设计为具备最高动态范围,使其即便在真实且要求严苛的工件上也能实现稳健测量。

是的。除标准产品外,我们也为 OEM 客户开发定制组件——从特殊镜头与照明单元到专用传感器变体。这样我们可将技术最佳化匹配具体应用,为客户带来明确的竞争优势。

集成非常简便:我们的传感器兼容 GenICam,可像工业相机一样进行调用。针对常见现场总线(例如 EtherCAT®、PROFINET®),我们提供接口模块。此外,我们还提供软件 SDK 与支持,使系统集成商和 OEM 能够快速将传感器集成到其设备中。

我们的相机采用白光干涉(WLI)。这种光学方法利用光波叠加,可精确捕捉纳米级的高度差。与三角测量或立体视觉方法不同,WLI 从正上方垂直测量——无阴影遮挡——即使在高反光或透明表面也能提供真实的 3D 数据。

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