비접촉식, 절대적, 재료 비의존적 측정 방식을 통해 백색광 간섭계는 다른 광학 방식이 한계에 부딪히는 곳에서도 일관된 결과를 제공합니다.
Heliotis의 고속 센서와 결합하여 실험실에서 대량 생산에 이르기까지 자동화된 품질 관리 및 공정 제어를 위한 인라인 핵심 기술이 됩니다.
WLI는 빛의 광학적 이동 시간을 통해 높이를 측정합니다. 이 물리적 원리는 작은 마이크로칩이든 큰 기능성 표면이든 관계없이 일정한 수직 해상도를 가능하게 합니다.
그 결과: 렌즈나 작업 거리와 무관하게 일관된 정확도를 제공합니다.
산업용 품질 관리에서는 광택 처리, 코팅, 구조화 또는 투명한 표면 등 다양한 종류의 표면이 접하게 됩니다.
WLI는 반사율, 색상 또는 질감에 의존하지 않으므로 이러한 모든 재료를 안정적으로 측정합니다. 매우 광택이 있거나 투명한 표면도 전처리 없이 감지됩니다. 파우더 처리나 무광 처리가 필요 없습니다.
삼각 측량 방식과 달리 WLI는 축 방향 광선을 사용합니다. 구멍, 단차 또는 깊은 채널도 그림자나 기울기 없이 완전히 감지됩니다. 복잡한 형상 및 협소한 설치 환경에 이상적입니다.
Heliotis가 개발한 Lock-in 픽셀 기술 덕분에 간섭 신호는 센서에서 직접 평가됩니다. 이는 기존 간섭계보다 최대 1000배 빠릅니다.
이를 통해 WLI는 진동에 강하고 빠르며 공정 능력을 갖추게 되어 자동화된 품질 관리에 완벽합니다.
WLI는 국가 표준에 추적 가능한 진정한 절대 3D 지형을 제공합니다.
높은 안정성과 반복성 덕분에 Heliotis 시스템은 인라인 검사에서 측정 장비 적합성(Gage R&R) 요구 사항을 충족합니다.
거칠기, 형상 또는 평탄도 등 모든 특성은 측정 가능하고 검증 가능하며 재현 가능합니다. 이는 고객뿐만 아니라 사내 생산 및 품질 보증에서도 신뢰를 구축합니다.
WLI는 면적을 측정하고 ISO 25178에 따른 거칠기 매개변수를 비접촉식 및 비파괴 방식으로 제공합니다.
높은 수직 해상도는 밀봉, 접착 또는 마찰과 같은 기능적 특성에 대한 의미 있는 3D 질감 모델을 가능하게 합니다.
따라서 거칠기 검사는 공정 안정적이고 인라인 가능합니다.
Heliotis 센서는 GenICam부터 EtherCAT® 및 PROFINET®을 거쳐 포괄적인 SDK에 이르기까지 개방형 산업 인터페이스를 사용합니다.
따라서 WLI 시스템은 독점 드라이버나 특수 솔루션 없이 PLC 제어 또는 머신 비전 PC에 직접 통합될 수 있습니다.
표준 준수는 통합 노력을 줄이고 기계 수준에서 안정적인 통신을 보장합니다.
Heliotis 센서는 산업용으로 개발되었습니다. 견고하고 안정적이며 장기적으로 사용할 수 있습니다.
대량 생산 조건에서 제조되고 수년간 호환성을 유지하여 기계 제조업체 및 OEM에 신뢰성을 제공합니다.
Heliotis AG