凭借其非接触式、绝对值且与材料无关的测量方式，白光干涉测量技术能够提供一致的结果——即使在其他光学方法达到极限的情况下也是如此。
结合 Heliotis 的高速传感器，它成为了自动化质量控制和过程控制的在线关键技术——从实验室到批量生产均可适用。
WLI 通过光的光学飞行时间来测量高度。这一物理原理实现了恒定的垂直分辨率——无论测量的是微小芯片还是大型功能表面。
结果是：无论物镜或工作距离如何，精度始终保持不变。
在工业质量控制中，会遇到各种类型的表面——抛光的、涂层的、结构化的或透明的。
WLI 能够可靠地测量所有这些材料，因为它不依赖于反射率、颜色或纹理。即使是高光或透明表面，无需预处理即可采集——既不需要喷粉，也不需要消光处理。
与三角测量法不同，WLI 采用轴向光束工作。即使是钻孔、台阶或深槽也能被完整采集——没有阴影或倾斜问题。非常适合复杂的几何形状和狭窄的安装环境。
得益于 Heliotis 开发的 Lock-in 像素技术，干涉信号直接在传感器内进行评估——比传统干涉测量快达 1000 倍。
这使得 WLI 具有抗振性、高速且具备工艺能力——完美适用于自动化质量控制。
WLI 提供真实的、绝对的 3D 地形图——可溯源至国家标准。
凭借高稳定性和重复精度，Heliotis 系统满足了在线检测中对测量系统分析 (Gage R&R) 的要求。
无论是粗糙度、形状还是平面度——所有特征都是度量的、可检查的且可重复的。这在客户以及内部生产和质量保证中都建立了信任。
WLI 进行面扫描并提供符合 ISO 25178 标准的粗糙度参数——非接触且无损。
高垂直分辨率可实现具有参考价值的 3D 纹理模型，用于分析密封性、附着力或摩擦力等功能特性。
从而使粗糙度检测变得过程可靠且具备在线能力。
Heliotis 传感器采用开放式工业接口——从 GenICam 到 EtherCAT® 和 PROFINET®，再到全面的 SDK。
因此，WLI 系统可以直接集成到 PLC 控制器或机器视觉 PC 中——无需专有驱动程序或特殊解决方案。
标准合规性降低了集成工作量，并确保了机器层面的可靠通信。
Heliotis 传感器专为工业应用而开发——坚固、稳定且长期可用。
在批量生产条件下制造，并保持多年的兼容性，为设备制造商和 OEM 厂商提供可靠性。
Heliotis AG