白光干涉測量技術透過其非接觸式、絕對且與材料無關的測量方式，提供一致的結果——即使在其他光學方法達到極限的情況下亦是如此。
結合 Heliotis 的高速感測器，它成為自動化品質控制和製程控制的線上關鍵技術——從實驗室到批量生產。
WLI 透過光的傳播時間測量高度。這種物理原理可實現恆定的垂直解析度——無論是測量小型微晶片還是大型功能表面。
結果：無論物鏡或工作距離如何，都能保持一致的精確度。
在工業品質控制中，會遇到各種不同類型的表面——拋光、塗層、結構化或透明。
WLI 可可靠地測量所有這些材料，因為它不依賴於反射率、顏色或紋理。即使是高度光亮或透明的表面，也無需預處理即可擷取——無需粉末或消光處理。
與三角測量方法不同，WLI 採用軸向光束。即使是孔洞、階梯或深溝槽也能完全擷取——無陰影或傾斜。非常適合複雜的幾何形狀和狹窄的安裝環境。
歸功於 Heliotis 開發的 Lock-in 像素技術，干涉訊號直接在感測器中進行評估——比傳統干涉測量快 1000 倍。
這使得 WLI 具有抗振動、快速和製程能力——非常適合自動化品質控制。
WLI 提供真實、絕對的 3D 拓撲——可溯源至國家標準。
憑藉高穩定性和重複性，Heliotis 系統符合線上檢測中測量設備能力 (Gage R&R) 的要求。
無論是粗糙度、形狀還是平面度——所有特性都可量化、可檢測且可重現。這為客戶以及內部生產和品質保證帶來了信心。
WLI 進行面測量，並根據 ISO 25178 提供粗糙度參數——非接觸且無損。
高垂直解析度可實現有意義的 3D 紋理模型，用於密封、附著力或摩擦等功能特性。
這使得粗糙度檢測具有製程可靠性和線上能力。
Heliotis 感測器採用開放式工業介面——從 GenICam 到 EtherCAT® 和 PROFINET®，以及全面的 SDK。
這使得 WLI 系統可以直接整合到 PLC 控制器或機器視覺 PC 中——無需專有驅動程式或特殊解決方案。
標準符合性減少了整合工作量，並確保了機器層面的可靠通訊。
Heliotis 感測器專為工業應用而開發——堅固、穩定且長期可用。
在批量生產條件下製造並多年保持相容性，為機械製造商和 OEM 提供可靠性。
Heliotis AG